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Beckhoff, Burkhard
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26.01.2015 Hermann, Peter; Hoehl, Arne; Ulrich, Georg; Fleischmann, Claudia; Hermelink, Antje; Kästner, Bernd; Patoka, Piotr; Hornemann, Andrea; Beckhoff, Burkhard; Rühl, Eckart; Ulm, Gerhard:
Characterization of semiconductor materials using synchrotron radiation-based near-field infrared microscopy and nano-FTIR spectroscopy

 

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